JPCA Show 2015

2015/06/03
イベント
JPCA Show 2015

JPCA Show2015(第17回実装プロセステクノロジー展)出展のご案内

当社では来る2015年6月3日(水)から5日(金)の3日間、ビッグサイトで開催されます、『JPCA Show2015(第17回実装プロセステクノロジー展)』に出展します。

非破壊解析の成功率の向上と解析時間の大幅な短縮を図るソリューションを提案致します。
電子部品、電子基板、半導体おパッケージなどの不良部位の場所をピンポイントで特定する「ロックイン赤外線発熱解析装置」と、その不具合事象・原因を特定する「高分解能X線CT検査装置」のコンビネーションソリューションをご案内します。


この機会に丸文ブースへのご来場を心よりお待ち申し上げます。

開 催 概 要

お問い合わせ

招待券やブースで詳細な説明等をご希望の方はご連絡ください。

丸文株式会社
システム営業本部 営業第2部
TEL:03-3639-9823
メール:sanki@marubun.co.jp

出展製品一覧

メーカー出展製品
株式会社ユニハイトシステム

NEW!!高分解能ナノフォーカス3次元X線CTシステム XVA-160αII
従来のハイエンドモデル機であるXVA-160αへ4Mピクセルカメラ、高精細トップテーブルを標準搭載し、さらに新機能を搭載させ、より安定した高分解能CT撮影を実現した最上位モデルです。

高出力マイクロフォーカスX線CTシステム Si-200/300
ハイダイナミックレンジのカメラを採用することで、観察の難しかった軽元素から金属まで幅広い情報を収集できます。
また、多岐にわたるスキャン方式、ノイズ成分をカットするアルゴリズムを採用し、空間分解能を維持した状態でより広範囲の画像を取得できます。

DCGシステムズ合同会社

ロックイン赤外線発熱解析装置 ELITE
ELITEは半導体や電子部品などの故障している場所を、非破壊で特定するための装置です。
ELITEは高感度IRカメラとロックイン技術の組合せにより、超高感度の検出能力を実現しました。微弱な発熱反応も見逃しませんので、従来は非破壊で検出することが不可能とされていた様々な不良を見つけることができるようになります。半導体や電子部品だけでなく、実装基板や実装モジュール上での故障部位特定にも活用できます。

※出展製品は変更になる場合もございます。また実物展示ではなくパネル展示が中心です。

会場地図