第31回エレクトロテストジャパン

2014/01/15
イベント
第31回エレクトロテストジャパン

エレクトロテスト展出展のご案内

当社では来る2014年1月15日(水)から17日(金)の3日間、ビックサイトで開催されます、『第31回エレクトロテストジャパン』に出展します。
不具合箇所を特定するロックイン赤外線発熱解析装置と、不具合事象を確認する高分解能X線CT検査装置のコンビネーションにより、非破壊解析の成功率の向上と解析時間の大幅な短縮を図るソリューションをご提案します。

この機会に丸文ブースへのご来場を心よりお待ち申し上げます。

開 催 概 要

お問い合わせ


招待券やブースで詳細な説明等をご希望の方はご連絡ください。
丸文株式会社
システム営業本部 営業第2部
TEL:03-3639-9823
メール:sanki@marubun.co.jp

出展製品一覧

株式会社ユニハイトシステム 3次元X線CTシステム
3次元斜めCT機能により、高分解能CT解析を実現します。実装基板や半導体パッケージなど、平板形状の製品の非破壊解析に有効です。
DCGシステム株式会社 ロックイン赤外線発熱解析装置 ELITE
ロックイン技術と高感度赤外線カメラの組合せにより、製品の不良部位をピンポイントに特定します。故障解析の時間短縮と成功率の向上を実現します。
※出展製品は変更になる場合がございます。

会場地図