第33回 エレクトロテスト ジャパン

2016/01/13
イベント
第33回 エレクトロテスト ジャパン

エレクトロテスト展出展のご案内

当社では来る2016年1月13日(水)から15日(金)の3日間、東京ビッグサイトで開催されます、『第33回エレクトロテスト ジャパン』に出展します。
不具合箇所を特定するロックイン赤外線発熱解析装置と、不具合事象を確認する高分解能X線CT検査装置のコンビネーションにより、非破壊解析の成功率の向上と解析時間の大幅な短縮を図るソリューションをご提案します。

この機会に丸文ブースへのご来場を心よりお待ち申し上げます。

開 催 概 要

お問い合わせ

招待券やブースで詳細な説明等をご希望の方はご連絡ください。
丸文株式会社
システム営業本部 営業第2部
TEL:03-3639-9823
メール:kaiseki@marubun.co.jp

出展製品一覧

株式会社ユニハイトシステム高分解能ナノフォーカス3次元X線CTシステム XVA160-αII
従来のハイエンドモデル機であるXVA-160αへ4Mピクセルカメラ、高精細トップテーブルを標準搭載し、さらに新機能を搭載させ、より安定した高分解能CT撮影を実現した最上位モデルです。
DCGシステムズ株式会社ロックイン赤外線発熱解析装置 ELITE
ロックイン技術と高感度赤外線カメラの組合せにより、製品の不良部位をピンポイントに特定します。
故障解析の時間短縮と成功率の向上を実現します。
※展示品はパネルおよびモニターでの展示となります。

会場地図