非破壊検査・解析フォーラム2015

2015/10/27
イベント
非破壊検査・解析フォーラム2015

非破壊検査・解析フォーラム2015開催

丸文株式会社は、半導体・電子部品・実装業界で解析や品質保証に携わるエンジニアの方々を対象とした『非破壊検査・解析フォーラム2015』を開催いたします。
本フォーラムでは高精度X線CT装置による不具合解析技術およびロックイン3次元赤外線発熱解析装置による故障部位特定技術の非破壊解析事例を中心に最新技術を紹介いたします。

是非この機会をご利用いただき、日頃の検査・解析業務のご参考にしていただければ幸いに存じます。

プログラム

12:00受付開始
12:30〜12:45丸文解析ビジネスアップデート
12:45〜13:20 ELITE解析を用いた、実装基板への応用事例 (DCGシステムズ)
13:20〜13:55ELITEを用いた最新の故障解析サービスの紹介 (沖エンジニアリング)

ブレイク
14:10〜14:353次元X線CT装置 新製品アップデート (ユニハイトシステム)
14:35〜15:00最新のX線CT技術情報の紹介 (ユニハイトシステム)

ブレイク
15:15〜15:55X線CTによる部品・製造プロセスの品質改善事例の紹介 (三菱電機鎌倉製作所 品質保証部様)
15:55〜16:35SiCパワーデバイスの実装不良解析事例の紹介 (大阪大学 産業科学研究所様)
17:00〜技術交流会 (懇親会)
※プログラム内容・時間は変更となる場合がございます。予めご了承ください。

開催概要

■日程および会場

10月27日(火)「大阪会場」 丸文株式会社 関西支社
10月28日(水)「名古屋会場」 丸文株式会社 中部支社
11月4日(水)「東京会場」 薬業年金会館 3階 第3会議室

■参加費

無料

■定員

各会場25名

■各会場申込締切日

  • 大阪会場  :10月9日(金)締切
  • 名古屋会場:10月9日(金)締切
  • 東京会場  :10月16日(金)締切
※各会場お早めにお申し込みください。

お申込方法

各会場とも定員に達しましたので申し込みを締め切りました。 たくさんのお申込みありがとうございました。

ご意見・ご要望など当社へのお問い合わせ先

◇非破壊解析フォーラム営業担当◇
植野 崇之、関 敬子
丸文株式会社 システム営業本部 営業第2部 産業機器課
〒103-8577 東京都中央区日本橋大伝馬町8番1号
Tel:03-3639-9823
E-mail:kaiseki@marubun.co.jp