JPCA Show2016(第18回実装プロセステクノロジー展)

2016/05/12
イベント

JPCA Show2016(第18回実装プロセステクノロジー展)出展のご案内

当社では来る2016年6月1日(水)から3日(金)の3日間、東京ビックサイトで開催されます、『JPCA Show2016(第18回実装プロセステクノロジー展)』に出展します。

非破壊で電子部品、電子基板、半導体素子やPKGの不具合箇所を短時間で特定し、数μmの微細な不良部位や樹脂と金属の混合製品の欠陥を解析するソリューションを提案致します。

※ナノフォーカスX線CT装置【XVA-160αⅡ】は実機展示し、サンプル撮影が可能です。
先着順となっておりますので、事前にお申し込みください。


この機会に丸文ブースへのご来場を心よりお待ち申し上げます。

開 催 概 要

お問い合わせ

招待券やブースで詳細な説明等をご希望の方はご連絡ください。
丸文株式会社
システム営業本部 営業第2部
TEL:03-3639-9823
メール:sanki@marubun.co.jp

出展製品一覧

株式会社ユニハイトシステム
NEW!! 高分解能ナノフォーカス3次元X線CTシステム XVA-160αII
従来のハイエンドモデル機であるXVA-160αへ4Mピクセルカメラ、高精細トップテーブルを標準搭載し、さらに新機能を搭載させ、より安定した高分解能CT撮影を実現した最上位モデルです。

高出力マイクロフォーカスX線CTシステム Si-200/300
ハイダイナミックレンジのカメラを採用することで、観察の難しかった軽元素から金属まで幅広い情報を収集できます。
また、多岐にわたるスキャン方式、ノイズ成分をカットするアルゴリズムを採用し、空間分解能を維持した状態でより広範囲の画像を取得できます。
DCGシステムズ合同会社
ロックイン赤外線発熱解析装置 ELITE
ELITEは半導体や電子部品などの故障している場所を、非破壊で特定するための装置です。
ELITEは高感度IRカメラとロックイン技術の組合せにより、超高感度の検出能力を実現しました。微弱な発熱反応も見逃しませんので、従来は非破壊で検出することが不可能とされていた様々な不良を見つけることができるようになります。半導体や電子部品だけでなく、実装基板や実装モジュール上での故障部位特定にも活用できます。

会場地図