当社では来る2012年1月18日（水）から20日（金）の3日間、東京ビックサイトで開催されます『第29回エレクトロテスト・ジャパン』に出展します。 非破壊解析の成功率UPと時間短縮を実現するソリューションとして、DCGシステムズ社製リアルタイム3次元発熱解析装置『ELITE』及びユニハイトシステム製高分解能3次元X線CT装置をご紹介します。
この機会に丸文ブースへのご来場を心よりお待ち申し上げます。
