非破壊検査・解析技術フォーラム

丸文株式会社では、半導体・電子部品・電子材料・実装業界で解析評価・品質保証に携わるエンジニアの方を対象とした『非破壊検査・解析技術フォーラム』を開催いたします。
最先端のX線CT技術や事例のご紹介、X線の生産現場への適用事例のご紹介、X線CT装置と赤外線発熱解析装置ELITEとの組合せによる、新しい解析手法などをご提案させていただく予定です。

是非この機会をご利用いただき、
お客様の検査・解析業務のご参考にしていただければ幸いに存じます。

• 主　催：丸文株式会社
  
• 共　催：株式会社ユニハイトシステム
  　　　　株式会社エックスライン
  　　　　DCGシステムズ株式会社
• 日程及び会場
  • 10月 7日（金）「福岡会場」howffice net会議室　博多駅前店
  • 10月20日（木）「名古屋会場」丸文株式会社　中部支社
  • 10月21日（金）「大阪会場」　丸文株式会社　関西支社
  • 10月28日（金）「東京会場」　丸文株式会社　本社4F
• 参加費：無料
• 定員：各会場20名　
• 申し込み締め切りを延長しました！
  • 「福岡会場」 ⇒9月30日締切
  • 「10月14日開催分　東京会場」⇒受付終了しました
  • 「名古屋会場」 ⇒10月14日締切
  • 「大阪会場」 ⇒10月14日締切
  • 「10月28日開催分　東京会場」 ⇒10月21日締切
• 申込み方法
  • 【HPからの申込み】
  • 【メールでの申込み】
    ※下記内容を明記の上お申し込みください。
    ・会社名
    ・氏名
    ・参加予定日および参加日