ICハンドラ/IC外観検査装置/自動試験装置ソリューション

ICハンドラ/IC外観検査装置/自動試験装置ソリューション

ハイパフォーマンス、コンパクト、お客様の使いやすさを追求したICテスタ。 ICテストハンドラー、IC外観検査装置のラインナップをご紹介します。

ハイパフォーマンスロジックテスタ,アナログICテスタ,パーソナルテスタ

低価格・コンパクト・ハイパフォーマンスロジックテスタ

「同等機能の従来機と比べ、大幅に低価格ながら、ACキャリブレーション機能付で200MHzのテストが可能。軽量コンパクト・ECO設計。」

ハイパフォーマンスで低価格。人と環境、低コストオペレーションにやさしいテスタです。
  • デジタル200MHz 512ch
  • 高速クロック400MHz 8ch
  • ACキャリブレーション(TDR)搭載で高速テストを実現。
  • W438mm×D438mm×H508mmのコンパクト設計。
  • 総重量 43kg(512ch時)の軽量化実現で、プローバー接続時の垂直ドッキング、ゼロフットプリントを実現、多様なレイアウトに対応します。
  • 消費電力3kVA。従来の同等機種の1/10。環境にやさしいECO設計。
  • 使いやすいGUI。プログラム作成に特別な技能を必要としません。
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32個測定対応 高速・高精度 ICテストハンドラ NX1032XS

ICテストハンドラ ラインナップ
世界最高水準のスループット、高精度ハンドリングと安定コンタクトをご提供するセイコーエプソンのICテストハンドララインナップ。
多彩なお客様のニーズにお応えするオプションを拡充しています。


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高機能IC外観検査装置 LI900W

高機能IC外観検査装置 LI900W
高機能IC外観検査装置 LI900W
IC外観検査装置 ラインナップ
高感度高精度な欠陥検査能力を持つLI900Wをはじめとして車載デバイス、太陽電池パネル、イメージセンサ、ウエハレベルパッケージなどの高度な検査要求に対応する外観検査装置ラインナップです。


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