位相雑音・アラン分散測定器 53100A

位相雑音・アラン分散測定器 53100A

米国Microchip社(マイクロチップ社)の53100Aは、1〜200MHzまでの信号の測定が可能な位相雑音・アラン分散測定器です。51XXA、3120Aについでリリースされた当製品は、アラン分散と位相雑音を同時に測定、リアルタイムで測定結果を表示することが可能で、様々なアプリケーションに対応した汎用性の高い製品となっております。

特長

  • 入力周波数範囲:1MHz〜200MHz
  • アラン分散
    • ノイズフロア—:<5E-14@1秒
  • MDEV、HDEV、TDEV測定が可能
  • 基準周波数と計測周波数が異なる場合でも計測可能
  • 位相雑音
    • 計測範囲:0.001Hzから1MHz
    • ノイズフロア—:-175dBc/Hz(10MHz floor)
  • GUIによる簡易的な測定が可能

オシレータの付加価値測定
~Microchip社製 最新アラン分散・位相雑音測定器のご紹介~

2021年1月27日に開催されたWEBセミナーの動画および資料を以下よりダウンロードすることが可能です。

Webセミナー概要

オシレータの性能を評価するには様々な方法があります。その中でも付加価値として高い周波数安定度や位相雑音特性について、Microchip社より新たにリリースされたアラン分散・位相雑音測定器「53100A」による操作方法、測定結果を用いてご紹介いたします。
講師:丸文株式会社 / 米川 知希、川浪 大明

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