高速・高精度・高信頼性　ICテストハンドラNS8160MS・NS8080MS・NS8080SH

基本性能、信頼性を向上し続けるNSシリーズハンドラです。
多数個測定に必要な高加圧力コンタクト、155度高温仕様を標準搭載。NS8160MS、NS8080MS、NS8080SHをラインナップ。チェンジキットは従来機種と互換。
最新モデルでは搬送ロボットの自己診断機能、パラメータ自動設定機能他、より使いやすく信頼の高性能高精度を高めています。

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商品基礎情報

本製品の主な特長

- 高速UPH（Unit Per Hour）
  - 1時間あたりに搬送・検査・分類できる最大半導体個数は15,450個。

- 高速で多ピン半導体を検査できる加圧力を標準搭載
  - 「NS8160MS」、「NS8080MS」の加圧力は標準2,400N。例えば、500ピンパッケージの半導体には、1ピン当たり30gf（0.3N）の圧力をかけられるため、1度に16個を搬送・検査・分類することが可能。

- 高温度対応
  - 最高155℃での半導体検査が可能。ヒートプレス方式の採用により高温時のジャム復帰も容易。

- ワイドソケットピッチ対応
  - ソケットピッチを広くとれるレイアウトであるため、例えば、特に半導体間のノイズ干渉を考慮する必要がある高周波（RF）デバイスの多数個検査も可能。

Easy Set Up機能搭載
- デバイス搬送ロボットのXY精度ととハンドピッチの自己診断機能を搭載。
  デバイス毎の搬送パラメータの一括自動設定機能を搭載しています。品種切り替えや新品種流動時の調整時間の大幅短縮と熟練スキルに頼らないセットアップが可能になります。

ICテストハンドラー「NS8160MS」、「NS8080MS」、「NS8080SH」の主な仕様

型番	NS8160MS	NS8080MS	NS8080SH
対象デバイス	QFP、TSOP、CSP、WLCSP、BGA、QFN、PLCC、LGA、PGA 最小3×3〜最大50×50（リードピッチ0.4mm以上）^*1
測定モード	16個測定（8×2）	–	–
	8個測定（4×2）
	4個測定（2×2）
	4個測定（4×1）
	2個測定（2×1）
	1個測定
測定エリア	264 × 130mm		184 × 130mm
標準ソケットピッチ（mm）	X：30 Ｙ：60	X：40 Y：60
加熱方式	ヒートプレス方式
インデックスタイム	0.42秒（〜1,600N）^*2		0.4秒（〜1,200N）^*2
	0.58秒（〜2,400N）^*2		–
最大スループット（個/時）	15,450
トレイ分類数	最大6分類（オート 3、マニュアル 3）
トレイ	JEDEC（135.9×315.0）mm
最大加圧力	2,400Ｎ		1,200N
温度精度	+50℃〜+90℃ ±2℃
	+90℃〜+155℃ ±3℃
電源	単相 AC 200〜240V　50/60Hz　6kVA
装置サイズ（mm）	1,860（W）× 1,500（D）× 2,000（H）^*3
総重量	1,060kg