32個測定対応　高速・高精度　ICテストハンドラ　NX1032XS

NSテクノロジーズ社ICテストハンドラのフラッグシップモデルNX1032XSは、32個同時測定、高スループット20,000UPHを実現した最新モデルです。

チェンジキットは従来機種と互換性を保ち、お客様の資産を有効活用することができます。

商品基礎情報

	NX1032XS
	16-site	32-site
対象デバイス	QFP, TSOP, CSP, WLCSP, BGA, QFN, PLCC, LGA, PGA 最小3×3〜50×50mm（リードピッチ0.4mm以上）^※1
測定モード	–	32個測定（8×4）
	16個測定（8×2）　8個測定（4×2）　4個測定（2×2）　4個測定（4×1）　2個測定（2×1）　1個測定
測定エリア	344×146mm	344×244mm
標準ソケットピッチ（mm）	X:40　Y:60
加熱方式	ヒートプレス方式
インデックスタイム	約0.42秒（ワイド4×2、8×2レイアウト）^※2 約2.21秒（4,800N）^※2	約2.05秒（8×4レイアウト）^※2 約4.35秒（4,800N）^※2
	最短0.38秒〜
最大スループット（個/時）	20,000（常温）、10,500（高温）
トレイ分類数	最大6分類（オート3、マニュアル3）
トレイ	JEDEC（135.9×315.0mm）
ホットプレートサイズ	220×380mm
最大加圧力	4,800N
温度精度	＋50℃〜＋90℃　±2℃ ＋90℃〜＋155℃　±3℃
電源	単相 AC 200〜240V　50/60Hz　6kVA
装置サイズ（mm）	1,940（W）×1,580（D）×2,000（H）^※3
総重量	1,200kg