MK550T / MD100Nディスプレイ向け輝度計

アプリケーションノート

・LCDとOLEDのディスプレイの問題点
以下に示すようにLCD、OLEDのバックライトのピークには、それぞれで“公差”が存在しています。これらはいわゆるパネル特性というものであり、5nm〜10nmの波長のシフト問題は健在しております。

・パネルの特性により起こるエラー
以下の表をご覧ください。もしピークが1nmずれているだけで、色度にどれだけのエラーが起きるかを示した表です。もし5nm~10nmも基準機からずれた場合は、非常に大きな色度ズレが生じてしまう事が理解できます。
一方、未だにまだ製造品質の安定していない有機EL・OLEDパネル、また量産化されていないmicroLED光源の利用するパネルに対して、上記のパネル特性にけん引する”ズレ”が更なる予測し難くなるだろうと考えられます。

これらの潜在するエラーを発見するため、ディスプレイの測定器には”高い精度”が求められますし、必要とされるべきです。

・分光式輝度計の強み
CIE 1931等色関数に完全合致したスペクトル感度を持つ分光式の輝度計は、フィルター式の輝度計などの計測機器と比べて高い精度を保ちます。CIE 1931等色関数に比べてバラつきの存在するフィルター式輝度計等を利用する場合、またにしても計測エラーを発生するリスクが高いと考えられています。そうすると、パネル特性のせいで“個性”のあるパネルに対して、色度のバラつきを如何に検出出来るか輝度計の役目であり、分光式計測技術の利用したMK550T型とMD100N型なら、精度高く正確のディスプレイ評価やディスプレイ製造工程の品質の向上に最適です。
一方、もちろん、UPRtek社の輝度計は全て分光式ですが、同時に測定条件の最適化により製造工程に利用されているように測定スピードも速いです。世界トップ5のスマートフォン・メーカーにも製造工程への納入された実績があります為、安心してご利用頂けます。