高機能IC外観検査装置 LI900R
特長 車載等品質要求の高いICに対する高分解能欠陥検査で目視検査レスを実現 供給トレイから出荷トレイへの移載作業がタイムロス無く実施可能 良品トレイ内の製品乗り上げ検査等、出荷製品の品質を確実に保証 2次元コードによる製品トレーサビリティー管理機能対応
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特長 車載等品質要求の高いICに対する高分解能欠陥検査で目視検査レスを実現 供給トレイから出荷トレイへの移載作業がタイムロス無く実施可能 良品トレイ内の製品乗り上げ検査等、出荷製品の品質を確実に保証 2次元コードによる製品トレーサビリティー管理機能対応
特長 高速でウエハレベルパッケージの2次元、3次元外観検査が可能 ウエハレベルパッケージ専用設計で低価格を実現(バンプ検査装置との差別化) ウエハ状態、又はダイシング後のフィルムフレーム状態でのハンドリングに対応 検査結果マッピング出力機能に対応
特長 CPU/MPU基板、イメージセンサーの目視外観検査の自動化を実現 Z軸自動制御機構付き上面検査ステージで微細欠陥にフォーカスを合わせて検査可能 不良品ベリファイデータ出力対応 2次元コードによる製品トレーサビリティ−管理機能対応