WavePulser 40iX 高速インターコネクトアナライザ｜テレダイン・レクロイ

WavePulser 40iXは、インターコネクトの特性評価と品質管理に特化した、コンパクトなテストソリューションです。Sパラメータ測定（周波数領域）とTDR（時間領域）の両方の解析機能を統合し、最大40GHzの周波数帯域で伝送路のあらゆる問題を明らかにします。

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商品基礎情報

WavePulser 40iX 高速インターコネクトアナライザ

「Fail」の根本原因は、Sパラメータだけでは見えない。

高速インターコネクトの評価において、Sパラメータ測定は不可欠です。しかし、周波数特性の悪化（Fail）が確認できても、その原因が伝送路のどこにあるのかを特定することは困難でした。一方で、TDRは位置の特定はできますが、周波数に依存する複雑な振る舞いを完全に捉えることはできません。

もし、ワンクリック、一度の測定で、Sパラメータ（周波数軸）と高分解能なインピーダンス・プロファイル（時間軸）を同時に取得し、シームレスに解析できるとしたら？

WavePulser 40iXは、その理想を現実にする、唯一無二のソリューションです。

WavePulser40ix データシート

ケーブルからコネクターまで。物理的な接続品質をミリ単位で可視化する

高速な車載ネットワークにおいて、信号品質は半導体（PHY）の性能だけで決まるものではありません。ECU間をつなぐケーブル、コネクター、ハーネスといった物理的な伝送路（インターコネクト）の特性が、システム全体の性能を大きく左右します。

WavePulser 40iXの特長
・特性インピーダンスの測定：ケーブルやコネクターのインピーダンスの不連続点を正確に特定。反射による信号劣化の原因を突き止めます。
・Sパラメータ測定：挿入損失（Insertion Loss）や反射損失（Return Loss）を測定し、伝送路が規格を満たしているかを検証します。
・故障箇所の特定： TDR機能により、ケーブルの断線やコネクターの接触不良といった物理的な故障箇所を、1mm未満の精度で特定できます。
・ワンボタン操作：複雑な設定を必要とせず、誰でも簡単かつ迅速に高精度な測定が可能です。

製造ラインでの品質管理から、市場で発生した不具合の原因究明まで。WavePulser 40iXは、車載ネットワークの物理的な信頼性を確保するための、パワフルで使いやすいツールです。

ミリメートル単位で問題を特定：空間分解能 <1 mm の超精密TDR

コネクターの締め付け不良、ケーブルのわずかな曲がり、基板上のビアの品質不良。これら物理的な不連続点は、高速信号にとって致命的な反射や損失の原因となります。

WavePulser 40iXは、8.5 psの高速な立ち上がり時間を持つパルスを使い、1mmにも満たない驚異的な空間分解能で、問題箇所を正確にピンポイントします。
Sパラメータの測定結果と組み合わせることで、障害の物理的な位置とその周波数特性への影響を同時に評価でき、これまでにない詳細な特性評価が可能になります。

・差動・同相インピーダンス・プロファイルを同時に表示
・ケーブル、コネクター、基板ビア、半導体パッケージまで、あらゆる接続を検証
・セットアップ用のケーブルやコネクターの不良も検出し、測定効率を最適化

同相および差動モード両方に対してのインピーダンス・プロファイル表示

WavePulser 40iXのステップおよびインパルス応答とSパラメーターを組み合わせることで障害のタイプを判別できます

DCから40GHzまで完全網羅：真のシステム性能を映し出すSパラメータ

WavePulser 40iXは、DCから40GHzまでの周波数帯域を完全にカバーします。
これにより、DCや低周波への外挿を必要とせず、システムの挙動を正確にモデリングできます。
4つのポートを標準で備え、シングルエンド測定はもちろん、差動・同相モードを含む全てのミックスモードSパラメータを一度の捕捉で取得。
複雑なケーブル接続の変更や再測定の手間からエンジニアを解放します。

・内蔵された電子校正機能により、迅速かつ確実な測定を開始
・周波数とポート数を選択するだけのシンプルなセットアップ
・最高精度から最高速まで、目的に応じてテスト時間を最適化可能