高機能2次元外観検査装置 NS1500

高機能2次元外観検査装置 NS1500

特長

  • CPU/MPU基板、イメージセンサの目視外観検査の自動化を実現
  • Z軸自動制御機構付き上面検査ステージで微細欠陥にフォーカスを合せて検査可能
  • 不良品ベリファイデータ出力対応
  • 2次元コードによる製品トレーサビリティ−管理機能対応

製品仕様

対象PKG タイプ CPU/MPUパッケージ基板、CCD/CMOSイメージセンサ
サイズ □5mm〜□40mm(※1)
端子ピッチ 400μm以上
対象トレイ JEDEC、JEITA(※2)
検査項目 端子検査 平坦度、位置度、ピッチ、全長、全幅、先端不揃い(※3)
PKG基板 S/R部:下地露出、異物、シミ、カケ、等
インク部:下地露出、異物、傷、等
端子部:ピン曲がり、端子上異物、端子カケ、有無、等
CC部:カケ、ミスアライメント、有無、等
C4部:バンプ有無、バンプ傷、バンプ間欠陥、等
イメージセンサ 上面:ガラス位置、ガラス傷・異物、エアパス、素子上傷、異物、ワイヤ有無、変形、ケース内異物、等
下面:捺印、ボイド、端子上異物、2次元コード検査、等
処理能力 PKG基板 3sec/pcs(※4)
イメージセンサ 2sec/pcs(※4)
外形寸法 W×D×H 1,860×1,350×1,950mm
ユーティリティ 供給電源 AC三相200V±10%
供給エアー 0.4MPa以上 200L/min
本体重量 1,500kg
オプション 2次元コード読み取り機能
NGベリファイデータ出力
側面検査対応(※5)
(※1)PKG基板検査とイメージセンサ検査では基本となる検査視野が異なります。
(※2)ソフトトレイ等の対応も別途検討可能です。
(※3)対応可能な端子形状はガルウィング、LGA、BGA、(PKG基板はPGA)となります。
(※4)欠陥検査の画像取り込み枚数により処理能力は変動します。
(※5)側面検査を対応する場合は、上位モデルへの機種変更となります。