CLC|レーザ開封装置 FA-LIT ~完全開封~
本装置は、米国Control Laser Corporation社製、半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージのレーザ開封装置FALITです。レーザスキャニングによるドライプロセスでのプラスチックモールドの開封プロセスをライブ画像で観察しながら、短時間で、樹脂・プラスチックモ...
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本装置は、米国Control Laser Corporation社製、半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージのレーザ開封装置FALITです。レーザスキャニングによるドライプロセスでのプラスチックモールドの開封プロセスをライブ画像で観察しながら、短時間で、樹脂・プラスチックモ...
本ページでは、米国Control Laser Corporation社製、半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージのレーザ開封装置FALITの特長を紹介します。このレーザ開封装置の主な特長は、レーザスキャニングによるドライプロセスでのプラスチックモールドの開封プロセスをライブ...
本ページでは、米国Control Laser Corporation社製、半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージのレーザ開封装置FALITのラインナップを、波長別/アプリケーション別/搭載レーザ数別にて紹介します。