CLC|レーザー開封装置 FA-LIT ~完全開封~
本装置は、米国Control Laser Corporation社製、半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージのレーザー開封装置FALITです。 レーザースキャニングによるドライプロセスでのプラスチックモールドの開封プロセスをライブ画像で観察しながら、短時間で、樹脂・プラス...
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本装置は、米国Control Laser Corporation社製、半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージのレーザー開封装置FALITです。 レーザースキャニングによるドライプロセスでのプラスチックモールドの開封プロセスをライブ画像で観察しながら、短時間で、樹脂・プラス...
本ページでは、米国Control Laser Corporation社製、半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージのレーザー開封装置FALITの特長を紹介します。 このレーザー開封装置の主な特長は、レーザースキャニングによるドライプロセスでのプラスチックモールドの開封プロセ...
本ページでは、米国Control Laser Corporation社製、半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージのレーザー開封装置FALITのラインアップを、波長別/アプリケーション別/搭載レーザー数別にて紹介します。