故障解析ソリューション

丸文株式会社では、「研究開発向け品質管理」「製造検査」において、最先端の技術と豊富なラインナップを取り揃えております。
故障解析業務における一連の作業の中で、非破壊解析・開封・物理解析までの工程を全て網羅した幅広いソリューションをご提供します。

研究解析向け品質管理

日本エフイー・アイ|リアルタイムロックイン発熱解析装置 ELITE -特長-

日本エフイー・アイ|リアルタイムロックイン発熱解析装置 ELITE -特長-

『ELITE解析®』とは、半導体・電子部品・実装基板などにおけるリーク・ショートの故障部位を非破壊でピンポイントに特定することが可能な技術です。
故障解析の初期段階で、故障部位...

メーカー
日本エフイー・アイ
FEI Company Japan Ltd.
日本エフイー・アイ|リアルタイムロックイン発熱解析装置 ELITE -基本仕様-

日本エフイー・アイ|リアルタイムロックイン発熱解析装置 ELITE -基本仕様-

『ELITE解析®』とは、半導体・電子部品・実装基板などにおけるリーク・ショートの故障部位を非破壊でピンポイントに特定することが可能な技術です。
故障解析の初期段階で、故障部位...

メーカー
日本エフイー・アイ
FEI Company Japan Ltd.
日本エフイー・アイ|リアルタイムロックイン発熱解析装置 ELITE -アプリケーションと有効性-

日本エフイー・アイ|リアルタイムロックイン発熱解析装置 ELITE -アプリケーションと有効性-

『ELITE解析®』とは、半導体・電子部品・実装基板などにおけるリーク・ショートの故障部位を非破壊でピンポイントに特定することが可能な技術です。
故障解析の初期段階で、故障部位...

メーカー
日本エフイー・アイ
FEI Company Japan Ltd.
日本エフイー・アイ|プラズマFIB-SEM | Helios 5 PFIB

日本エフイー・アイ|プラズマFIB-SEM | Helios 5 PFIB

FIBのイオン源にXe プラズマイオンを搭載しております。
GaタイプのFIBでは得られない大電流高速加工により、広範囲の断面作成、3D解析ならびにTEM試料、各種分析の搭載が可能な装置です。

メーカー
日本エフイー・アイ
FEI Company Japan Ltd.
日本エフイー・アイ|フルデジタル透過電子顕微鏡 | Talos S/TEM

日本エフイー・アイ|フルデジタル透過電子顕微鏡 | Talos S/TEM

Talosは、走査・透過型電子顕微鏡(S/TEM)であり、多次元に渡るナノ材料において、高スループット、多目的、多次元の解析に最適な最高加速電圧200kVのS/TEMシステムです。

メーカー
日本エフイー・アイ
FEI Company Japan Ltd.
日本エフイー・アイ|Emission・OBIRCH複合装置 | Meridhian

日本エフイー・アイ|Emission・OBIRCH複合装置 | Meridhian

Emission、OBIRCH、レーザプロービングによる動的解析まで、解析ニーズを幅広くカバーできる装置です。

メーカー
日本エフイー・アイ
FEI Company Japan Ltd.
ナノ/マイクロフォーカス3次元X線CTシステムの特長

ナノ/マイクロフォーカス3次元X線CTシステムの特長

こちらのページでは、ユー・エイチ・システム社のナノ/マイクロフォーカス3次元X線CTシステムの特長をご紹介いたします。
ユーセントリック機構、3次元斜めCT機能など独自の技術をベースに、超高倍率での透過/C...

メーカー
ユー・エイチ・システム
U.H.SYSTEM
ナノ/マイクロフォーカス3次元X線CTシステムのラインナップと各製品のスペック

ナノ/マイクロフォーカス3次元X線CTシステムのラインナップと各製品のスペック

こちらのページでは、ユー・エイチ・システム社のナノ/マイクロフォーカス3次元X線CTシステムのラインナップ と撮影事例をご紹介いたします。ユーセントリック機構、3次元斜めCT機能など独自の技術をベースに、超高倍率での...

メーカー
ユー・エイチ・システム
U.H.SYSTEM
CLC|半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージ|レーザ開封装置 FA-LITの特長

CLC|半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージ|レーザ開封装置 FA-LITの特長

本ページでは、米国Control Laser Corporation社製、半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージのレーザ開封装置FALITの特長を紹介します。
このレーザ開封装置の主な特長は、レーザス...

メーカー
コントロールレーザ
Control Laser Corporation
CLC|半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージ|レーザ開封装置 FA-LITのラインナップ

CLC|半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージ|レーザ開封装置 FA-LITのラインナップ

本ページでは、米国Control Laser Corporation社製、半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージのレーザ開封装置FALITのラインナップを、波長別/アプリケーション別/搭載レーザ数別にて紹介しま...

メーカー
コントロールレーザ
Control Laser Corporation