日本エフイー・アイ|リアルタイムロックイン発熱解析装置 ELITE -特長-

日本エフイー・アイ|リアルタイムロックイン発熱解析装置 ELITE -特長-

『ELITE解析®』とは、半導体・電子部品・実装基板などにおけるリーク・ショートの故障部位を非破壊でピンポイントに特定することが可能な技術です。
故障解析の初期段階で、故障部位と正確に特定することで、その後の解析業務を大幅に効率化します。
こちらのページではELITEの基本概念と特長を紹介いたします。

一般的なサーモグラフィーとロックイン発熱解析(ELITE解析®)の違い

一般的なサーモグラフィ像
ロックイン発熱画像

ELITEの基本構成

検出できる情報(発熱強度と遅延位相)

リアルタイムロックイン機能による微小発熱検出能力

ELITE解析®では空間分解能を上げるために、ロックイン周波数を可変することができます。ロックイン周波数を上げれば上げるほど、発熱反応を小さく絞り込むことができます。一方で、ロックイン周波数を上げれば上げるほど、赤外線放射量は低下するため、発熱現象を検出しにくくなります。 ELITEはリアルタイムロックイン方式を採用することで、長時間測定を実現し、微小発熱現象を捉えることができる、唯一のシステムです。

微小な発熱減少も時間をかけることで検出可能

カメラ・ソフトウェアの性能向上

新型デジタルカメラ、機能が一新されたソフトウェア Sierra により、検出能力が一段と向上。
測定条件によっては20倍以上もの測定時間短縮が図られました。