CLC|半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージ|レーザ開封装置 FA-LITのラインナップ

CLC|半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージ|レーザ開封装置 FA-LITのラインナップ

本ページでは、米国Control Laser Corporation社製、半導体ICデバイス不良・故障解析用パッケージのレーザ開封装置FALITのラインナップを、波長別/アプリケーション別/搭載レーザ数別にて紹介します。

レーザ開封装置 FA-LIT の ラインナップ① ~波長別~

こちらでは、各波長別にFAL-ITのラインナップを紹介します。
FA-LITは、複数の波長のレーザを備えたあらゆるタイプの半導体故障解析にて正確なテストサンプルを提供します。

FAL-ITのラインナップ②  ~アプリケーション別~

こちらでは、解析用途別にFAL-ITのラインナップを紹介します。
FALITには、ファイバーレーザの以外にも、透明樹脂のようなGEL基材を除去させるためのCO2レーザも用意しています。(FALIT-GEL)
また金属を含む基板等を正確にかつ垂直に切断するための専用グリーンレーザまたは、UVレーザのラインナップがございます。(FALIT-Xsec)
そして、上記の複数のレーザ源を1つの装置に統合した搭載させたモデルもございます。
(FALIT-DUO、FALIT-TRIO)
CLCが提供する無償のアプリケーションテストをお試しの上、その推奨結果と希望に合わせて、選択ください。

FAL-ITのラインナップ③  ~レーザ発振器の搭載数別~

こちらでは レーザ発振器の搭載数別にFAL-ITのラインナップを紹介します。
FALIT Table topは卓上タイプ、FALIT-FSは、FALITを自立させたモデルです。複数のレーザ源を1つの装置に統合した搭載させたモデルもございます。(FALIT-DUO、FALIT-TRIO)
FACUBEは、CLCのレーザマーキング装置の外観を流用させたFALITの機能を簡素化させたモデルです。

FA-LIT Table-Top 仕様