位相雑音・アラン分散測定器 5125A [ 生産終了 ]

位相雑音・アラン分散測定器 5125A [ 生産終了 ]

米国Microchip社(マイクロチップ社)の5125Aは、1MHz-400MHzの正弦波に対する位相雑音及びアラン分散が同時に計測可能な、ユニットタイプの位相雑音・アラン分散測定器です。 自動校正、自動設定可能な優れた操作性、デジタル処理による高品質な測定を実現します。データ処理の為の外部コンピュータが不要で、リアルタイムで計測結果を表示します。

【後継機種】

位相雑音・アラン分散測定器 5125Aは、生産終了となりました。
新たな後継機種として下記をご用意しております。

測定器 位相雑音・アラン分散測定器 5120A

測定器 位相雑音・アラン分散測定器 5120Aは、位相雑音及びアラン分散が同時に計測可能な、ユニットタイプの位相雑音・アラン分散測定器です。

測定器 位相雑音・アラン分散測定プローブ 3120A

測定器 位相雑音・アラン分散測定プローブ 3120A は、最も一般的に使用される周波数基準の全範囲をカバーし、0.5〜30 MHzまでの信号に対して正確な位相雑音とADEV測定が可能です。

主な特長

  • 入力周波数範囲 : 1MHz から 400MHz(正弦波)
  • 基準周波数と計測周波数が異なる場合でも計測可能
  • 位相雑音
    • ノイズフロアー
      <スペック>
      • 10MHz   -140dBc/Hz@1Hz、-165dBc/Hz@10kHz
      • 100MHz  -120dBc/Hz@1Hz、-165dBc/Hz@10kHz
      • 400MHz  -110dBc/Hz@1Hz、-155dBc/Hz@10kHz
      <Typical>
      • 10MHz   -145dBc/Hz@1Hz、-170dBc/Hz@10kHz
      • 100MHz  -130dBc/Hz@1Hz、-170dBc/Hz@10kHz
      • 400MHz  -116dBc/Hz@1Hz、-156dBc/Hz@10kHz
  • 計測精度: ±1.0dB
  • 計測範囲: 0.1mHz から 1MHz
  • アラン分散
    • 計測範囲: 1ミリ秒 から 300日以上
    • ノイズフロアー: <3.0E-15@1秒(10-400MHz、0.5HzBW)
  • イーサネットでの操作、データ伝送

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