日本エフイー・アイ｜リアルタイムロックイン発熱解析装置 ELITE -基本仕様-
『ELITE解析』とは、半導体・電子部品・実装基板などにおけるリーク・ショートの故障部位を非破壊でピンポイントに特定することが可能な技術です。
故障解析の初期段階で、故障部位と正確に特定することで、その後の解析業務を大幅に効率化します。
こちらのページではELITEの基本仕様及びオプション類をご紹介いたします。
商品基礎情報
ELITE 基本構成
高感度赤外線カメラとロックイン電源を搭載したELITEはジョイスティックによる高い操作性と幅広いアプリケーションに対応する汎用性を兼ね備えた構成になっております。
小型の電子部品から実装基板及び大型モジュールまで測定テーブルにセットすることが可能で、各種オプション類により様々な測定に対応しております。
ELITE
《基本構成》
高感度赤外線カメラ
電動ターレット：6ポジション
電動XYZテーブル：XYストローク 150mm
Zストローク 540mm
ロックインソフトウェア
標準筐体
《主なオプション》
レンズ：ワイドアングル・1倍・5倍・10倍
ロックイン電源：20V～10kV
マニュアルマニピュレータ
針当て用顕微鏡
レーザマーカ
サーマルチャック
レンズ仕様表
ELITEには最大4本のレンズを取り付けることができます。
200×160ｍｍの広い視野（ワイドアングルレンズ）から0.96×0.77ｍｍ（×10倍レンズ）の視野まで拡大することができます。
ロックイン電源仕様表
ELITEには各種ロックイン電源を取りそろえております。
小型電子部品から高耐圧パワーデバイス（最大10kV）まで測定対象ワークに合わせたロックイン電源の選択が可能です。
1.1kV以上の電源を選択する場合はインターロック機能による安全対応を施してあります。
ELITE Lite
高性能なELITEと、コストパフォーマンスが高いELITE Liteの2つの製品をご用意しています。
ELITEは10kVまでの高電圧や、微小な発熱の検出が必要なアプリケーションに対応し、ELITE Liteは手動のレンズ交換と40Vまでのロックイン電源でのアプリケーションに対応しています。
ELITE-Lite
IR OBIRCH反応検出機能オプション New！！
レーザースキャン及び光学系（Laser Scanning Microscope：以下、LSM）を付加した新しい高感度赤外線カメラによりOBICH反応検出機能を追加しました。ELITEの赤外線画像とLSMで取得した高解像度のICダイ回路のスキャン画像をオーバーレイすることで、回路上の欠陥部位を高拡大・高分解能で特定することが可能です。
ELITEにLSM及びOBIRCH機能を付加することで、電気的短絡箇所及び関連する欠陥の検出をより高解像度の画像にて検証することが可能になります。従来のELITEの機能を補完すると同時に、より進化した解析手法をご提供します。
OBIRCH機能によりロックイン発熱解析を補完
